可组网单总线A/D芯片在多点检测系统中的应用

• 作者: 刘建华 刘靖纳 崔跃华 张建成
• 来源期刊: 仪表技术
• 学科: 工学
• 关键词: 检测系统 DS2450 单总线技术 单片机
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 20-21
• 页数: 2页
• 分类号: TM930
• 字数: 1086字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2394.2005.04.005

摘要

介绍一种利用可组网新型A/D芯片DS2450具有的单总线特点,结合单片机和一些模拟量输出的传感器所构成的多点多参数系统,介绍了它的硬件和软件设计.