退火处理对ITO表面特性及有机发光器件性能的影响

• 作者: 仲飞 刘彭义 段光凤
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: ITO 有机发光器件 退火 表面处理 性能
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 498-502
• 页数: 5页
• 分类号: TN873.3
• 字数: 2854字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2005.06.007

摘要

为了改善有机发光器件(OLEDs)的性能,在0～600 ℃不同温度下对ITO透明导电玻璃进行了退火处理.SEM观察到随退火温度的升高,ITO表面粗糙度增加;四探针电阻测试结果显示,在300 ℃以上温度退火后ITO表面电阻率有明显增加.用退火前后的ITO玻璃作为阳极制备了OLEDs,器件结构为ITO/TPD/Alq3/Al,比较器件的电流密度-电压特性曲线测试结果表明,ITO薄膜的热处理温度对OLEDs性能有显著的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘彭义	暨南大学物理系	53	370	10.0	18.0
2	仲飞	暨南大学物理系	9	85	6.0	9.0
3	段光凤	暨南大学物理系	3	22	3.0	3.0