超导薄膜表面电阻测量新方法

• 作者: 何明 冯洪辉 孙冬艳 张旭 方兰 阎少林
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 蓝宝石谐振器 超导薄膜表面电阻 品质因数
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 315-319
• 页数: 5页
• 分类号: O51
• 字数: 3394字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.04.005

摘要

本文报导一种测量高温超导薄膜微波表面电阻的新方法和测试装置.通过对加载两个不同蓝宝石的同一谐振腔进行测试,可以得到测试样品以外所有其它损耗对应的Q值.根据电磁场分布计算出谐振腔的结构参数G.用网络分析仪测量出谐振腔的无载Q值,便可计算出超导薄膜的微波表面电阻Rs.测量过程中既不会损伤超导薄膜样品,同时可以实现单片超导薄膜表面电阻的绝对测量,不需要校准件,测量简便可靠,精度高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方兰	南开大学信息技术科学学院	47	115	6.0	6.0
2	阎少林	南开大学信息技术科学学院	53	137	6.0	7.0
3	何明	南开大学信息技术科学学院	43	86	5.0	6.0
4	张旭	南开大学信息技术科学学院	32	79	5.0	7.0
5	孙冬艳	南开大学信息技术科学学院	9	11	2.0	3.0
6	冯洪辉	南开大学信息技术科学学院	2	6	1.0	2.0