电子设备中天线的互耦效应分析

• 作者: 孟逢逢 朱武
• 来源期刊: 上海电力学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁干扰 电磁兼容 互耦效应 校正
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 技术应用
• 页码范围: 234-236
• 页数: 3页
• 分类号: TM93
• 字数: 2476字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4729.2005.03.009

摘要

介绍了电磁兼容问题在现代电子设备设计中的重要性;重点研究了电子设备中天线的互耦效应和校正方法, 阐明了天线的互耦效应直接影响到天线性能,并对软件校正方法进行了计算机模拟.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟逢逢	上海电力学院计算机与信息工程学院	12	67	5.0	7.0
2	朱武	上海电力学院计算机与信息工程学院	72	419	11.0	17.0