铝及铝合金中As的光电光谱分析

• 作者: 孙克非 谢昕
• 来源期刊: 轻合金加工技术
• 学科: 工学
• 关键词: 铝合金 As 光电光谱 背景扣除
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 材料测试与检验
• 页码范围: 44-45
• 页数: 2页
• 分类号: TG146.21|TG115.33
• 字数: 1457字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7235.2005.10.012

摘要

食品箔、药品箔中的As是国际严格控制的元素,过去生产中采用分光光度法分析,不仅具有毒性,而且耗时长,而郑州铝业公司所用光谱仪无真空通道,不适合As元素的准确分析.采用As 234.9 nm非真空分析线,运用计算机扣除背景影响的方法,解决了生产中快速准确分析As的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢昕		10	21	2.0	4.0
2	孙克非		2	6	1.0	2.0