SiO2气凝胶常压制备、表面结构与吸附性质

• 作者: 倪星元 吴广明 吴越华 周斌 张志华 沈军 王孝利 陈世文
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: SiO2气凝胶 常压干燥 表面结构 吸附特性
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 页码范围: 498-502
• 页数: 5页
• 分类号: O648
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2005.06.006

摘要

采用溶胶-凝胶技术,以多聚硅(E-40)为源,通过表面修饰工艺,在常压条件下制备了SiO2气凝胶.采用扫描电镜、13C和29Si核磁共振谱以及孔径分布仪对SiO2气凝胶的微结构进行了表征,并用微量电子真空吸附天平对SiO2气凝胶的吸附特性进行了研究.结果表明:SiO2气凝胶具有纳米多孔结构、较好的疏水和亲水可调性,是一种极好的高吸附材料.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周斌	同济大学波耳固体物理研究所	140	1582	22.0	31.0
2	沈军	同济大学波耳固体物理研究所	199	2285	26.0	36.0
3	吴广明	同济大学波耳固体物理研究所	118	1607	22.0	32.0
4	陈世文	同济大学波耳固体物理研究所	5	31	3.0	5.0
5	倪星元	同济大学波耳固体物理研究所	48	742	16.0	25.0
6	张志华	同济大学波耳固体物理研究所	52	554	14.0	22.0
7	吴越华	同济大学波耳固体物理研究所	10	43	4.0	6.0
8	王孝利	同济大学波耳固体物理研究所	3	23	2.0	3.0