气体电子倍增器的研制及性能测试

• 作者: 夏义本 张明龙 杨莹 汪琳 王林军 顾蓓蓓
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 气体电子倍增器 辐射探测器 聚酰亚胺薄膜 X射线
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 页码范围: 511-514
• 页数: 4页
• 分类号: TL811|TL572
• 字数: 2321字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2005.05.015

摘要

气体电子倍增器(GEM)以其独特的性能在辐射探测器领域得到了广泛的应用,对50μm厚聚酰亚胺(kapton)薄膜利用真空热蒸发和激光掩膜打孔法制作GEM膜,孔径100μm,孔距223μm,并封装流气式探测器,有效探测面积3mm×3mm.5.9keV 55Fe X射线测量了GEM在不同高压和混合气体比例时的脉冲幅度分布情况.讨论了高压和气体比例对探测器计数率和能量分辨率的影响.结果表明GEM具有较高的信噪比,能量分辨率可达18.2%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明龙	上海大学材料科学与工程学院	24	165	8.0	11.0
2	夏义本	上海大学材料科学与工程学院	111	725	13.0	19.0
3	王林军	上海大学材料科学与工程学院	109	441	11.0	14.0
4	汪琳	上海大学材料科学与工程学院	11	46	5.0	6.0
5	顾蓓蓓	上海大学材料科学与工程学院	5	29	3.0	5.0
6	杨莹	上海大学材料科学与工程学院	12	58	5.0	7.0