缩短电子设备寿命试验时间的不确定性系统模型与方法

• 作者: 蔡明山
• 来源期刊: 江汉大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 不确定性系统 USM-1模型 泛灰数学 电子设备寿命试验 数据处理
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 物理学
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN06|O159
• 字数: 3128字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-0143.2005.03.008

摘要

采用泛灰色不确定性系统理论中的USM-1模型,运用Matlab程序对电子设备失效寿命试验数据进行了数值拟合与预测,给出了模型精度检验方法.运用该模型可缩短试验时间,节约试验费用.实例表明,不确定性系统模型USM-1应用于电子设备失效寿命试验数据处理是可行的,该模型不需要累加生成和累减生成,不仅适合于等间距建模,也适合于非等间距建模,具有精度高、使用简便的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡明山	湖南文理学院电气工程系	72	170	7.0	9.0