自主创新,与时俱进,在电子产品的质量园地辛勤开拓、耕耘--五所半个世纪技术发展道路回顾

• 作者: 马怀祖
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 信息产业部电子第五研究所 质量 可靠性 质量认证 数据收集和服务 失效机理和分析 第三方独立试验室
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 特约专稿
• 页码范围: 1-7
• 页数: 7页
• 分类号: T-1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.z1.001

摘要

从10个方面简要地回顾了五所半个世纪以来技术发展的道路,真实、全面地反映了五所在电子产品质量事业中所进行的开创性工作和不懈的努力.不仅可以充分了解五所的技术发展历史,也可以对我国电子产品质量事业的发展过程有一个大致的概念.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马怀祖		2	2	1.0	1.0