500 fs超短脉冲激光对CCD探测器的破坏效应

• 作者: 唐本奇 张勇 张永生 王祖军 肖志刚 黄绍艳
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: CCD探测器 超短脉冲激光 破坏机理 像元饱和 饱和串音
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 高功率激光与光学
• 页码范围: 1445-1448
• 页数: 4页
• 分类号: TN249
• 字数: 2186字
• 语种: 中文

摘要

采用脉宽500 fs,脉冲能量250 μJ的超短脉冲激光辐照线阵CCD探测器,观察到了CCD从线性响应到像元饱和、饱和串音直至硬损伤的整个过程,并着重对两种辐照能量密度下的硬损伤机理进行了理论分析.结果表明:激光能量密度为0.45 μJ/cm2时,达到像元饱和;能量密度为0.14 J/cm2时,辐照6个脉冲后实现了CCD器件的硬损伤,硬损伤源于晶格被加热并汽化形成等离子体;能量密度为1.41 J/cm2时,单个脉冲就使CCD器件的输出波形无法辨认,2个脉冲后CCD器件没有任何信号输出,硬破坏源于电荷分离形成的电场库仑力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐本奇		32	248	9.0	13.0
2	王祖军		22	178	7.0	12.0
3	肖志刚		29	227	8.0	13.0
4	张勇		23	200	8.0	12.0
5	黄绍艳		27	220	8.0	13.0
6	张永生		34	126	6.0	9.0