数字电路测试生成的二元判定图方法

• 作者: 潘中良 陈翎
• 来源期刊: 重庆工商大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 测试生成 二元判定图 布尔函数
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 电子信息技术
• 页码范围: 268-272
• 页数: 5页
• 分类号: TP301
• 字数: 3345字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-058X.2005.03.017

摘要

测试是保证电路系统可靠性的重要手段,已成为集成电路设计与生产的一个组成部分,研究了基于二元判定图的数字电路测试生成方法,对布尔函数的表示和操作的二元判定图进行研究,详细讨论了其中的ite算符;给出了基于二元判定图的电路测试生成方法的实现步骤,并用实例进行了说明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘中良	华南师范大学物理与电信工程学院	65	230	8.0	12.0
2	陈翎	华南师范大学物理与电信工程学院	25	44	3.0	4.0