基于延迟内插的调制域分析

• 作者: 杨成 杨文举
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 调制域分析 零空闲(ZDT)计数 延迟内插 FPGA
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 仪器研制与开发
• 页码范围: 46-47
• 页数: 2页
• 分类号: TN742
• 字数: 1475字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8892.2005.06.012

摘要

介绍了调制域分析技术的原理,重点介绍基于FPGA的零空闲(ZDT)计数和测量补偿技术.测量补偿采用延迟内插法,相对于传统的游标内插法和斜坡内插法,此方法电路简单,转换速率高,测时分辨率可以达到ps级.本方案可应用在高精度连续测频、高精度连续测量时间间隔,测n s秒级窄脉冲等各种场合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨成	中国电子科技集团公司第五十研究所一部	4	14	2.0	3.0
2	杨文举	中国电子科技集团公司第五十研究所一部	7	15	3.0	3.0