HPGeγ谱仪系统死时间校正方法的实验研究

• 作者: 周丰群 孔祥忠 拓飞 易艳玲 杨景康
• 来源期刊: 高能物理与核物理
• 学科: 物理学
• 关键词: HPGeγ谱仪 死时间 校正因子
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 探测器与实验方法
• 页码范围: 1175-1178
• 页数: 4页
• 分类号: O57
• 字数: 2274字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3052.2005.12.013

摘要

给出了HPGe γ谱仪系统死时间校正的一种实用方法.用强源干扰找到了HPGe γ谱仪系统百分死时间与计数率丢失校正因子的关系,使该系统允许计数率大大提高,从而解决了放射性定量测量中的一些困难.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周丰群	兰州大学现代物理系	13	19	3.0	4.0
3	孔祥忠	兰州大学现代物理系	22	57	5.0	6.0
4	拓飞	兰州大学现代物理系	9	28	4.0	5.0
7	杨景康	兰州大学现代物理系	3	12	2.0	3.0
8	易艳玲	兰州大学现代物理系	6	28	3.0	5.0