超导薄膜表面电阻测试方法及误差分析

• 作者: 何明 周铁戈 孙冬艳 张旭 方兰 阎少林
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 介质谐振腔 高温超导薄膜 微波表面电阻
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 页码范围: 605-609
• 页数: 5页
• 分类号: O51
• 字数: 2892字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.z1.042

摘要

本文介绍一种蓝宝石加载单端短路谐振腔测量高温超导薄膜的方法,并对测量误差进行了较详细的分析.造成测量误差的主要因素有三个:系统无载品质因数 Q0的测量误差,超导薄膜以外损耗品质因数 Qother的实验误差,以及在谐振腔内超导薄膜的几何参数 G的计算误差.大量的实验结果表明,本方法操作简便,重复性好,测量精度高,相对测量误差不超过10%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周铁戈	南开大学电子科学系	44	100	5.0	7.0
2	方兰	南开大学电子科学系	47	115	6.0	6.0
3	阎少林	南开大学电子科学系	53	137	6.0	7.0
4	何明	南开大学电子科学系	43	86	5.0	6.0
5	张旭	南开大学电子科学系	32	79	5.0	7.0
6	孙冬艳	南开大学电子科学系	9	11	2.0	3.0