孪晶铜中孪晶尺寸对疲劳位错组态的影响

• 作者: 卢磊 李守新 郭小龙
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: Cu 孪晶 疲劳 尺寸效应 位错组态
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 23-27
• 页数: 5页
• 分类号: TG111.8
• 字数: 2805字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0412-1961.2005.01.005

摘要

对孪晶铜进行塑性应变幅控制下的疲劳实验,研究了不同宽度的孪晶内疲劳位错组态及演化过程.结果表明,孪晶宽度不同时,孪晶内的疲劳位错组态不同.当孪晶宽度大于1 μm时,孪晶内疲劳位错组态与单晶中情况类似;孪晶宽度介于1 μm到200 nm之间时,位错形成类PSBs结构;孪晶宽度介于200 nm到20 nm之间时,孪晶内只能形成一些位错碎片;孪晶宽度小于20 nm时,孪晶内没有稳定的晶格位错存在.