粉体颗粒细度对多层片式氧化锌压敏电阻器性能的影响

• 作者: 庄严 苏达根 钟明峰
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: 多层片式压敏电阻器 粉体颗粒细度 膜片质量 电性能
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 材料研究
• 页码范围: 117-119,122
• 页数: 4页
• 分类号: TN304
• 字数: 2039字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-023X.2005.06.034

摘要

通过调整Bi2O3、Sb2O3、TiO2、B2O3、BaCO3等少量添加剂的掺量,可在低温880℃下与10%Pd-90%Ag内电极共烧,制得性能优良的多层片式氧化锌压敏电阻器(ZnO MLCV).主要采用两种不同颗粒细度的ZnO粉体来研究粉体颗粒细度对多层片式氧化锌压敏电阻器性能的影响.研究发现适当地使用部分超细ZnO粉体,改善ZnO粉体的颗粒分布,再使用适量的磷酸酯作为分散剂,可以流延制得较致密、平整、均匀的膜片,从而制得瓷体的致密性较高,且非线性系数较高、漏电流较低、峰值电流及能量耐量较高的多层片式压敏电阻器;而ZnO粉体颗粒粒径太大及过细,都会影响膜片的质量,进而影响多层片式压敏电阻器的性能.XRD衍射分析发现ZnO粉体颗粒细度的改变对瓷体的物相组成无明显影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏达根	华南理工大学特种功能材料及其制备新技术教育部重点实验室	110	1090	17.0	24.0
2	庄严		22	166	7.0	11.0
3	钟明峰	华南理工大学特种功能材料及其制备新技术教育部重点实验室	38	228	10.0	13.0