高温超导薄膜微波表面电阻测量标准理论精度修正

• 作者: 吉争鸣 吴培亨 孙国柱 李洪洋 许伟伟
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 高温超导薄膜 表面电阻
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 211-214
• 页数: 4页
• 分类号: O51
• 字数: 1920字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.03.005

摘要

高温超导薄膜的表面电阻Rs作为应用超导器件设计和性能衡量的一个重要参数,对超导无源微波元件的设计和开发有很重要意义.准确测量超导薄膜的表面电阻Rs也就非常重要.国际通用的标准测量方案中的理论模型公式是基于高温超导膜无限大的基础上的.考虑到实际超导薄膜的总是有限大的情况,我们从理论上进行了精度分析,在此基础上对此理论模型公式进行了修正,求出基于超导膜有限大时的Rs的表达式,并对两种情况进行了一定的比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许伟伟	南京大学电子科学与工程系	69	148	6.0	9.0
2	吴培亨	南京大学电子科学与工程系	93	237	8.0	12.0
3	吉争鸣	南京大学电子科学与工程系	36	111	6.0	9.0
4	孙国柱	南京大学电子科学与工程系	24	18	3.0	3.0
5	李洪洋	南京大学电子科学与工程系	1	0	0.0	0.0