CAF:电子工业小型化的威胁

• 作者: 华嘉桢 高艳丽
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 经济
• 关键词: CAF 小型化
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 检验与测试
• 页码范围: 56-59
• 页数: 4页
• 分类号: F4
• 字数: 3606字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0096.2005.10.014

摘要

概述了CAF的历史、发生的原理,分析了CAF产生的根本原因,比较了几种CAF失效分析的方法,同时也介绍了一种简易的测试设备.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高艳丽		11	12	2.0	3.0
2	华嘉桢		5	8	2.0	2.0