铜箔粗糙度和处理过程引起的非经典导线损耗

• 作者: 王阿红
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 关键词: 铜箔粗糙度 传输线损耗
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 特种印制板
• 页码范围: 49-55
• 页数: 7页
• 分类号: TN4
• 字数: 5799字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0096.2005.10.013

摘要

论述了铜箔粗糙度和传输线损耗之间的相互关系,而且还讨论了几种将铜箔粗糙度效果整合到传输线模型中的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王阿红		2	14	2.0	2.0