双参数指数分布异常数据的检验

• 作者: 朱宏 李云飞 黄继伟
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 数学
• 关键词: 双参数指数分布 异常数据 次序统计量 分位数 检验统计量
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 127-130
• 页数: 4页
• 分类号: O212.1|O212.7
• 字数: 2114字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2005.01.034

摘要

针对双参数指数分布的异常大数据,给出了一种新的检验方法.寻找到总体参数的具有较好稳健性的估计量,并在此基础上构造出检验统计量,求出了该检验统计量精确的概率密度函数和大样本情形下的近似分布,得到了检验临界值简洁的近似表达式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱宏	电子科技大学应用数学学院	22	265	7.0	16.0
2	李云飞	电子科技大学应用数学学院	7	75	4.0	7.0
3	黄继伟	电子科技大学应用数学学院	1	11	1.0	1.0