基于ADS芯片的高精度位移测试仪的设计

• 作者: 邓重一
• 来源期刊: 自动化技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 位移测试 数据采集 高精度 ADS1212芯片 单片机
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 仪器仪表与检测技术
• 页码范围: 70-72,75
• 页数: 4页
• 分类号: TP274.5
• 字数: 1956字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-7241.2005.05.023

摘要

说明了位移计的作用;详细介绍了核心芯片ADS1212的结构、原理及使用方法;描述了高精度位移测试仪的设计全过程,给出了整体框图、部分的设计电路图和程序模块.