纳米绝缘材料的STM检测机理及其应用研究

• 作者: 刘安平 周维 杨学恒 王银峰
• 来源期刊: 中国机械工程
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 微观形貌
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 微纳加工与测试及封装技术
• 页码范围: 389-390
• 页数: 2页
• 分类号: TH38
• 字数: 1559字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-132X.2005.z1.138

摘要

分析了纳米绝缘材料薄层在适当的偏压电场下STM检测的机理,用自行研制的STM.IPC-205B型扫描隧道显微镜实现了对部分绝缘纳米材料微观形貌的检测,得到了理想的图像.拓展了STM检测加工技术的应用领域,进一步发挥了STM在材料结构和性能研究方面精度高、稳定性强等优势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨学恒		39	294	9.0	15.0
2	王银峰		13	71	4.0	8.0
3	刘安平		17	40	4.0	5.0
4	周维		2	2	1.0	1.0