断层扫描分析法用于联用色谱二维数据的解析Ⅱ. 定量分析:原理与应用

• 作者: 亓云鹏 吴玉田 宋云龙 李通化 柴逸峰 范国荣 陆峰
• 来源期刊: 分析化学
• 关键词: 联用色谱 褶合曲线分析法 断层扫描分析法 定量分析
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 169-172
• 页数: 4页
• 字数: 3340字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.2005.02.006

摘要

提出了一种全新的色谱-光谱二维数据信息处理手段--断层扫描分析法.本研究介绍断层扫描分析法的定量分析原理:在重叠色谱峰簇中,每个色谱保留时间处都可得到一条光谱"断层";针对不同的光谱"断层",可结合褶合曲线分析法进行定量分析,并最终获得重叠色谱峰簇中待测组分的定量信息.用断层扫描分析法对一实验体系进行了定量分析,结果满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋云龙	第二军医大学药学院药物分析教研室	35	319	10.0	17.0
2	吴玉田	第二军医大学药学院药物分析教研室	119	1606	26.0	33.0
3	范国荣	第二军医大学药学院药物分析教研室	123	1248	18.0	27.0
4	陆峰	第二军医大学药学院药物分析教研室	87	895	18.0	25.0
5	李通化	同济大学化学系	60	480	13.0	19.0
6	柴逸峰	第二军医大学药学院药物分析教研室	187	1796	22.0	30.0
7	亓云鹏	第二军医大学药学院药物分析教研室	38	344	10.0	17.0