高精度金属薄膜磁电阻效应测试系统

• 作者: 于广华 朱逢吾 王立锦 赖武彦
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 金属薄膜 磁电阻效应 C语言 计算机辅助测试 IEEE-488
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1257-1261
• 页数: 5页
• 分类号: TP206+.1
• 字数: 2889字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2005.12.011

摘要

概述了探针法金属薄膜磁电阻效应测试的原理;分析了探针因子对测量结果的影响;设计组装了金属薄膜磁电阻效应的高精度测试系统,并给出了微机控制软件的关键子程序.该系统集数据采样、数据处理、参数计算等功能于一体,用户界面友好、测试范围宽、精度高.系统软件还能显示和打印测量结果的数据曲线,并可生成标准数据文件供ORIGIN等数据处理软件调用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于广华	北京科技大学材料科学与工程学院	88	372	9.0	14.0
2	朱逢吾	北京科技大学材料科学与工程学院	54	229	8.0	12.0
3	赖武彦	中国科学院物理研究所磁学国家重点实验室	23	143	7.0	11.0
4	王立锦	北京科技大学材料科学与工程学院	25	208	9.0	14.0