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摘要:
讨论X射线系统中平板探测器的坏像素产生原因并归纳分类.研究坏像素的探测、校正矩阵的生成和对坏像素的校正方法.通过仿真模型对所提出的校正算法进行了验证,通过比较重建图像的信噪比对该算法的效果进行了评估.研究结果表明,平板探测器的制造缺陷等固有噪声源将在重建图像中被增强,并表现为大量的条纹和环形伪影;通过校正,重建图像中的上述伪影明显减少,图像质量得到改善,且系统的低对比度探测能力也得到相应提高.
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文献信息
篇名 平板探测器坏像素校正方法研究
来源期刊 现代制造工程 学科 工学
关键词 平板探测器 坏像素 伪影 校正
年,卷(期) 2005,(10) 所属期刊栏目 仪器仪表与检测
研究方向 页码范围 71-74
页数 4页 分类号 TP302.1|TP391.7
字数 3006字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-3133.2005.10.026
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张定华 296 3953 32.0 44.0
2 崔凤奎 河南科技大学机电工程学院 130 920 16.0 24.0
3 张丰收 河南科技大学机电工程学院 68 399 9.0 18.0
4 王晓强 河南科技大学机电工程学院 42 292 8.0 16.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
平板探测器
坏像素
伪影
校正
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代制造工程
月刊
1671-3133
11-4659/TH
大16开
北京市西城区核桃园西街36号301A
2-431
1978
chi
出版文献量(篇)
9080
总下载数(次)
14
总被引数(次)
50123
相关基金
河南省自然科学基金
英文译名:
官方网址:http://kyc.hncj.edu.cn/gzzd/gzzd56.htm
项目类型:
学科类型:
论文1v1指导