RF MEMS开关在开关瞬态时的电磁干扰

• 作者: 廖小平 陆逸敏 陈洁 黄庆安
• 来源期刊: 中国机械工程
• 关键词: MEMS开关 电容 电场强度 磁场强度
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 微纳传感器与执行器
• 页码范围: 129-131
• 页数: 3页
• 分类号: TM56
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-132X.2005.z1.043

摘要

针对RF MEMS开关在开和关瞬态时的充电和放电的过程中的开关电容的变化、极板间电场的变化以及因此而产生的磁场进行了详尽的推导,沈明在开关的瞬态产生的变化电磁场将对信号产生一定程度的干扰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄庆安		35	415	12.0	19.0
2	陈洁		18	138	6.0	11.0
3	廖小平		6	9	2.0	2.0
4	陆逸敏		1	1	1.0	1.0