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摘要:
利用纳米压痕技术对单晶硅做纳米压痕试验,得到其载荷-压深曲线.用原子力显微镜测出压痕的三维形貌,结合Matlab软件,直接计算出压痕的残余面积,从而得到单晶硅的纳米硬度值.通过对直接面积法与Oliver-Pharr方法测出的硬度值进行分析比较,发现两种方法得到的硬度值都有压痕尺寸效应,但用直接面积法得到的硬度值比用Oliver-Pharr方法得到的硬度值尺寸效应更明显一些.
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文献信息
篇名 直接面积法测量纳米硬度技术的研究
来源期刊 中国机械工程 学科 工学
关键词 原子力显微镜 纳米压痕 硬度 直接面积法 单晶硅
年,卷(期) 2005,(22) 所属期刊栏目 科学基金
研究方向 页码范围 2052-2055
页数 4页 分类号 TB9
字数 2697字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1004-132X.2005.22.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周亮 34 354 10.0 18.0
2 姚英学 136 2556 28.0 41.0
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研究主题发展历程
节点文献
原子力显微镜
纳米压痕
硬度
直接面积法
单晶硅
研究起点
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期刊影响力
中国机械工程
半月刊
1004-132X
42-1294/TH
大16开
湖北省武汉市湖北工业大学772信箱
38-10
1973
chi
出版文献量(篇)
13171
总下载数(次)
15
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206238
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