Nakagami-m Keyhole衰落信道下MIMO系统容量及天线选择

• 作者: 杨亮 秦家银
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 多输入多输出 块空时编码 Keyhole Nakagami衰落 天线选择
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 107-109
• 页数: 3页
• 分类号: TN92
• 字数: 2672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2006.01.021

摘要

本文全面地分析了在Nakagami-m衰落信道下具有"匙孔"(keyhole)效应时正交块空时编码(STBCs)的多输入多输出 (MIMO)系统的容量以及误比特率(BER)性能,导出了该系统环境下平均容量的紧下边界值,同时得出了系统中断概率的具体表达式及其误码率的近似值.在此基础上分析了Keyhole MIMO信道下的天线选择问题.最后进行了仿真,其结果与理论分析一致.研究表明,在Keyhole MIMO信道中,采用天线选择仍然能够获得与全复杂系统相同的分集增益.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	秦家银	中山大学电子与通信工程系	47	294	10.0	13.0
2	杨亮	中山大学电子与通信工程系	9	49	4.0	7.0