R-C光学系统在小角度入射下的离轴响应

• 作者: 张大勇 沈志学 袁永华 骆永全
• 来源期刊: 应用激光
• 学科: 工学
• 关键词: R-C光学系统 CCD系统 离轴角 PST 杂光
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 254-256
• 页数: 3页
• 分类号: TN2
• 字数: 1888字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-372X.2006.04.012

摘要

在小角度范围,532nm CW光束以连续变化的入射角辐照Ritchey-Chretien (R-C)光学系统,利用CCD系统测量像面中心的强度,得到了该光学系统的离轴响应曲线,对杂光进行了初步分析.结果表明,当离轴角小于0.2o时,PST大于3.0×10-4,并在若干位置出现了峰值,杂光比较明显;离轴角大于0.6o时,PST小于4.5×10-7,且呈单调衰减趋势,光学系统对杂光有较强的抑制能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈志学	中国工程物理研究院流体物理研究所	24	115	5.0	9.0
2	袁永华	中国工程物理研究院流体物理研究所	17	99	6.0	9.0
3	张大勇	中国工程物理研究院流体物理研究所	62	225	7.0	12.0
4	骆永全	中国工程物理研究院流体物理研究所	42	119	6.0	8.0