用于静电放电EMP实验的三模冗余技术

• 作者: 刘尚合 刘文冰 原亮
• 来源期刊: 军械工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: TMR FPGA 容错运行 ESD EMP
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 装备电磁防护理论与技术
• 页码范围: 29-31
• 页数: 3页
• 分类号: O441.1|TN409
• 字数: 2213字
• 语种: 中文

摘要

通过对TMR(Triple Modular Redundancy)容错技术的分析和研究,介绍了一种基于FPGA芯片的TMR整体"硬化"技术,并分别对采用了TMR技术的电机容错控制系统和未采用TMR技术的一般电机控制系统进行了ESD EMP的辐照效应实验,得出TMR技术可有效增强控制系统抗ESD EMP能力的结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	原亮	军械工程学院静电与电磁防护研究所	68	623	12.0	21.0
2	刘文冰	军械工程学院静电与电磁防护研究所	7	61	3.0	7.0
3	刘尚合	军械工程学院静电与电磁防护研究所	203	2590	23.0	39.0