同步变长码的抗误码扩散能力分析

• 作者: 刘卫忠 孙德宝 邹雪城 黄全亮
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 同步变长码 抗误码扩散 码距分布 移位对称数
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 研究与方法
• 页码范围: 72-75
• 页数: 4页
• 分类号: TN91
• 字数: 2418字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2006.10.015

摘要

基于离散无记忆信源模型,分析了变长码的抗误码扩散概率.利用在理想条件下的概率分布,计算了同步变长码的抗误码扩散概率.分析发现同步变长码的抗误码扩散概率与其码距分布有关.给出了一种计算同步变长码码距分布的迭代算法.数值计算结果显示同步变长码的抗误码扩散概率随其移位对称数的增加而减少.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙德宝	华中科技大学控制科学与工程系	84	2363	22.0	48.0
2	邹雪城	华中科技大学电子科学技术系	310	2261	21.0	31.0
3	刘卫忠	华中科技大学电子科学技术系	116	663	12.0	19.0
4	黄全亮	华中科技大学电子科学技术系	19	109	7.0	9.0