变长码的抗误码扩散能力分析

• 作者: 刘卫忠 孙德宝 邹雪城 黄全亮
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 变长码 抗误码扩散 离散无记忆信源 平均码长 码方差
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 71-73
• 页数: 3页
• 分类号: TN919.8
• 字数: 2537字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2007.02.021

摘要

给出了一种基于离散无记忆信源模型的分析变长码抗误码扩散能力.该方法通过分析序列中某一时刻某个码字出现的概率,以及该码字发生错误后正好变成与该码字同码长的另一码字的概率,得到该时刻不发生误码扩散的概率.而整个序列不发生误码的概率为该概率的序列长次幂.模拟计算结果显示,该方法可在不增加平均码长和码方差的情况下,选择出抗误码扩散能力最好的码组.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙德宝	华中科技大学控制科学与工程系	84	2363	22.0	48.0
2	邹雪城	华中科技大学电子科学与技术系	310	2261	21.0	31.0
3	刘卫忠	华中科技大学电子科学与技术系	116	663	12.0	19.0
4	黄全亮	华中科技大学电子科学与技术系	19	109	7.0	9.0