液晶器件扭曲角与光延迟的光学外差法测试技术理论研究

• 作者: 于涛 陆云涛
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示 参数测试 扭曲角 光延迟 光学外差法
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 页码范围: 545-549
• 页数: 5页
• 分类号: TN27|TN141.9
• 字数: 3092字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2006.05.028

摘要

将光学外差法应用于液晶器件扭曲角与光延迟的测试, 提出了测试系统的光路简图,推导出了外差式测试方程,并对此方程进行了数值模拟与分析.此方法将液晶层的相位差转化为光学拍频信号的相位,由传统方法的测量光强转为测量拍频信号的相位差,能克服传统方法的缺点,因此具有较高的精度与抗干扰性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于涛	大连海事大学光电子技术研究所	7	15	3.0	3.0