硫化温度对两步法制备FeS2薄膜成分和结构的影响

• 作者: 吴新坤 程树英 翁臻臻 郑明学 钟南保
• 来源期刊: 扬州大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 二硫化铁薄膜 硫化 温度 性能
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TM914.4|TN305.2
• 字数: 2406字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-824X.2006.02.010

摘要

首先采用真空热蒸发法在玻璃基片上沉积厚度约为500 nm的铁膜,然后对铁膜在温度为553～673 K的条件下恒温硫化6 h,制备FeS2薄膜.对制备的薄膜进行X射线衍射和显微结构分析,发现:合适的硫化温度为603～653 K,所得薄膜为单一物相的FeS2薄膜,n(S)/n(Fe)值为1.94～1.96,接近理想化学配比,薄膜晶粒大小均匀,表面致密.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程树英	福州大学物理与信息工程学院	96	443	11.0	17.0
2	吴新坤	福州大学物理与信息工程学院	7	23	2.0	4.0
3	钟南保	福州大学物理与信息工程学院	9	37	3.0	6.0
4	翁臻臻	福州大学物理与信息工程学院	5	6	2.0	2.0
5	郑明学	福州大学物理与信息工程学院	9	54	3.0	7.0