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电子产品可靠性与环境试验期刊
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双机容错方案设计
双机容错方案设计
作者:
武建锋
荆文芳
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
双机容错
磁盘阵列
热备份
互备
摘要:
介绍了双机容错的两种基本构架模式:双机互备援模式和双机热备份模式,利用马尔科夫模型对两者的可靠性进行了分析、比较;针对不同的用户给出了相应的双机容错设计方案,并对两种方案的优缺点进行了分析.
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文献信息
篇名
双机容错方案设计
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
双机容错
磁盘阵列
热备份
互备
年,卷(期)
2006,(1)
所属期刊栏目
计算机科学与技术
研究方向
页码范围
19-22
页数
4页
分类号
TP393.08
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2006.01.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
武建锋
中国科学院国家授时中心
14
91
5.0
9.0
2
荆文芳
西北工业大学自动化学院
4
36
2.0
4.0
传播情况
被引次数趋势
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版权信息
全文
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引证文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
双机容错
磁盘阵列
热备份
互备
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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