基于数据流图划分的低峰值功耗扫描测试

• 作者: 凌明 吴光林 李锐 杨军
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描 峰值功耗 可测性设计 测试
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 短文
• 页码范围: 128-132
• 页数: 5页
• 分类号: TN74
• 字数: 3343字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2006.01.026

摘要

扫描测试作为数字集成电路设计中最常用的可测性设计方法,能显著提高电路的可测性,但同时也会引起测试功耗问题.本文采用划分待测电路数据流图的方法降低测试峰值功耗.实验表明,在稍微降低故障覆盖率的条件下,本文提出的测试方法能显著降低测试的峰值功耗,同时也能降低平均功耗和能耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	210	2336	24.0	38.0
2	凌明	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	76	344	10.0	14.0
3	李锐	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	22	121	6.0	10.0
4	吴光林	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	12	130	7.0	11.0