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摘要:
开发高可靠性的绝缘层薄膜几十年来一直是TFEL显示器研制中的重要努力方向之一.采用双靶脉冲电子束蒸发法制备了Al2O3/TiO2单元结构为10 nm/10 nm、20 nm/20 nm、40 nm/40 nm、总厚度约600 nm的多层复合薄膜,同时采用共蒸发法制备了800 nm的AlxTiyOz复合薄膜,研究了它们的介电性能,并与Al2O3、TiO2单层膜的介电性能做了比较,最后将性能较优的AlxTiyOz薄膜应用到ZnS:Mn TFEL器件中.Al2O3/TiO2多层复合膜随着结构单元中Al2O3、TiO2厚度由10 nm增至40 nm,介电常数由20.2减小到16.1,击穿场强由154 MV/m增至174 MV/m,反映介电损耗的参数ΔVy由0.09 V降为0.04 V,在50 MV/m下漏电流密度由1×10-6 A/cm2增至1×10-4 A/cm2,品质因子由2.62 μC/cm2降为2.46 μC/cm2.AlxTiyOz薄膜的品质因子大于3.6 μC/cm2,应用于ZnS:Mn TFEL器件中获得在200 Hz下较高的L50(58 cd·m-2)、很低的阈值电压(60~70 V),而且各个像素的L-V性能有很好的重复性.
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文献信息
篇名 电子束蒸发Al2O3/TiO2复合膜及在无机EL中的应用
来源期刊 液晶与显示 学科 工学
关键词 电子束蒸发 Al2O3-TiO2复合膜 介电性能 ZnS:Mn器件
年,卷(期) 2006,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 469-473
页数 5页 分类号 TN383.1
字数 3030字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-2780.2006.05.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张羿 上海广电电子股份有限公司平板显示技术研究开发中心 5 4 1.0 1.0
2 肖田 上海广电电子股份有限公司平板显示技术研究开发中心 11 30 3.0 4.0
3 黄浩 上海广电电子股份有限公司平板显示技术研究开发中心 4 21 3.0 4.0
4 林明通 上海广电电子股份有限公司平板显示技术研究开发中心 7 20 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子束蒸发
Al2O3-TiO2复合膜
介电性能
ZnS:Mn器件
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
液晶与显示
月刊
1007-2780
22-1259/O4
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-203
1986
chi
出版文献量(篇)
3141
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总被引数(次)
21631
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