微波、毫米波相位噪声测试系统的研制

• 作者: 杨远望 王文钦 蔡竟业
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 相位噪声 测试系统 锁相环 反卷积 微波 毫米波
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 113-117
• 页数: 5页
• 分类号: TN18
• 字数: 2156字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2006.02.004

摘要

提出了首先对微波、毫米波信号进行下变频,再利用锁相环提取被测试信号相位噪声的相位噪声提取方法,采用现代谱分析技术对提取出的相位噪声信号在频率中进行分析,并利用"反卷积"技术实现测试系统的误差校正,研制实现了微波、毫米波相位噪声测试系统.实验测试结果表明该系统具有测试灵敏度高和被测信号频率范围广的优点,证明了它具有较大的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨远望	电子科技大学通信与信息工程学院	16	115	6.0	10.0
2	蔡竟业	电子科技大学通信与信息工程学院	31	214	9.0	12.0
3	王文钦	电子科技大学通信与信息工程学院	22	146	6.0	11.0