英特尔率先推出45纳米测试芯片

• 来源期刊: 中国计算机学会通讯
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 技术创新
• 页码范围: 21
• 页数: 1页
• 语种: 中文

摘要

英特尔公司2006年1月26日宣布,该公司已经生产据信是全球第一片采用纳米(nm)工艺技术制造的全功能静态随机存取内存(static random access memory,SRAM)芯片.