基于马尔可夫过程的高压断路器电子元件可靠性分析

• 作者: 林莘 王钰 石飞 马世骁
• 来源期刊: 沈阳建筑大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 断路器 电子元件 马尔可夫 可靠性
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 信息与控制
• 页码范围: 1027-1030
• 页数: 4页
• 分类号: TM561.2
• 字数: 2246字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-2021.2006.06.034

摘要

目的 通过对真空断路器的电子元件可靠性研究,提出一种判断高压电器可靠性的方法,为评价和提高高压断路器的可靠性设计提供有效的途径,为设计更高水平的高压电器提供理论支持.方法 根据时间变量的现在状态及其变化趋势利用马尔可夫过程,预测在未来某一特定期间内可能出现的状态.结果 对元件或系统达到平稳工作状态所需的时间以及平稳工作状态的概率大小进行计算;依据元件达到平稳工作状态所需的时间来确定对元件进行可靠性筛选试验的时间,并通过实际应用加以验证.结论 为高压电器运行可靠性的决策提供依据,在选择断路器电子元件时应综合考虑元件的故障率及维修率的大小,对于拓宽高压电器可靠性设计研究具有一定的借鉴意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林莘	沈阳工业大学电气工程学院	194	2544	28.0	41.0
2	马世骁	沈阳建筑大学管理学院	32	241	8.0	15.0
4	石飞	沈阳工业大学电气工程学院	8	46	4.0	6.0
5	王钰		3	49	3.0	3.0