手机中电触点的失效分析

• 作者: 周怡琳
• 来源期刊: 北京邮电大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 镀金触点 污染 磨损 接触电阻 手机
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 69-72
• 页数: 4页
• 分类号: TM503+.5
• 字数: 2821字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5321.2006.01.016

摘要

研究了大量失效手机中的镀金触点后发现,触点表面污染是造成电接触故障的主要原因之一.污染物形貌复杂,且主要集中在印制电路板的触点一侧,成分涉及C、O、Si、Al、S、Cl、Na、Ni等很多元素.污染物来自于环境中的尘土和微动磨损.采用图像处理技术计算污染物覆盖面积百分比,划分触点污染程度为5级.污染等级越高,污染物平均厚度越厚,磨损区范围越大.污染触点上的接触电阻60%超过设计标准,最大接触电阻达4Ω.电接触不可靠造成手机可靠性下降.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周怡琳	北京邮电大学自动化学院	31	140	7.0	10.0