多层快速多极子方法中转移因子的修正拉格朗日内插技术

• 作者: 王军 聂在平 胡俊 胡颉 邹光先 雷霖
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁散射 多层快速多极子方法 转移因子 修正内插
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 539-542
• 页数: 4页
• 分类号: TN011
• 字数: 2937字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2006.03.035

摘要

利用多层快速多极子方法,许多电大尺寸问题现已能在有限的计算机条件下得以解决.在多层快速多极子方法中,转移计算是主要的计算工作量,所涉及的转移因子的计算和存储方法也直接影响方法效率.为实现转移因子的快速计算和低存储,本文提出一种高效的修正拉格朗日内插技术.通过引入场源间距的修正因子,不同场源间距的转移因子可由局域内插快速计算.与传统多层快速多极子方法中计算转移因子的方法相比,该方法显著降低了转移因子的存储量和计算量,并具有可靠的计算精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂在平	电子科技大学电子工程学院	216	2216	23.0	36.0
2	胡俊	电子科技大学电子工程学院	42	523	11.0	22.0
3	王军	电子科技大学电子工程学院	115	936	14.0	26.0
4	雷霖	电子科技大学电子工程学院	43	313	10.0	16.0
5	胡颉	电子科技大学电子工程学院	3	160	3.0	3.0
6	邹光先	电子科技大学电子工程学院	3	160	3.0	3.0