小子样条件下基于Normal-Poisson过程的性能可靠性评定

• 作者: 刘琦 周经伦 张永强
• 来源期刊: 国防科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 航空航天 Normal-Poisson过程 Bayes 性能可靠性
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 应用数学·信息工程
• 页码范围: 128-132
• 页数: 5页
• 分类号: TB114
• 字数: 3601字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2486.2006.03.027

摘要

对于高可靠、长寿命产品,基于性能退化数据分析可靠性是一种行之有效的技术途径.结合航空航天产品性能退化的机理与现场试验小子样的特点,建立了基于Normal-Poisson过程的性能退化模型.论文在对产品性能退化建模的基础上,结合Bayes方法给出了退化模型参数的估计算法和可靠性推断的公式,最后结合实例说明了方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘琦	国防科技大学信息系统与管理学院	46	479	13.0	20.0
2	周经伦	国防科技大学信息系统与管理学院	140	1986	23.0	38.0
3	张永强	国防科技大学信息系统与管理学院	10	116	6.0	10.0