高精度偏振依赖损耗自动测试系统

• 作者: 全治科 应承平 王恒飞
• 来源期刊: 应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: 偏振依赖损耗 自动测试系统 偏振态 偏振控制器
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 79-84
• 页数: 6页
• 分类号: O436.3|TP216
• 字数: 3714字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2082.2006.01.023

摘要

光学器件的偏振依赖损耗(PDL)是发展光纤通信必须克服的关键技术之一.该文介绍了一种新型的高精度偏振依赖损耗自动测试系统,系统中采用耦合器和监测功率计,实现了单次接入即可完成偏振依赖损耗的测量,消除了系统光功率稳定性对测试结果的影响.在同一系统中,可实现多种方法测试偏振依赖损耗,采用偏振控制器的延迟补偿技术实现了全波段内的偏振依赖损耗高精度测试.系统工作波长范围为1 200～1 600 nm,偏振依赖损耗测量范围0～5 dB,测量不确定度高达0.005 dB+PDL×4%,可满足各种光学器件偏振依赖损耗测试需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王恒飞		1	1	1.0	1.0
2	应承平		1	1	1.0	1.0
3	全治科		1	1	1.0	1.0