基于全状态伪随机序列的BIST设计

• 作者: 吕虹 张海峰 段颖妮
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 全状态 伪随机序列 内建自测试 移位寄存器 特征分析
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 1263-1266
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3039字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2006.04.070

摘要

全状态伪随机序列发生器(ASPRG)是在FSR的基础上,通过修改其反馈函数而得到,其最大的优点就是利用了移位寄存器的全部状态,序列最大长度为2n.本文首先推导得到4位和8位ASPRG的反馈网络函数,在此基础上应用ASPRG进行内建自测试(Build In Self Test)设计并优化电路结构,ASPRG既作为测试信号发生器,而它的另一种工作模式则作为特征分析使用.这样不仅简化了BIST设计,同时降低了功耗,具有较高的现实意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张海峰	暨南大学光电工程研究所	18	297	6.0	17.0
2	吕虹	安徽工程科技学院电气系	28	146	7.0	10.0
3	段颖妮	安徽工程科技学院电气系	8	58	5.0	7.0