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摘要:
对中波HgCdTe光伏探测器进行了不同目标温度范围的黑体辐射I-V测试研究,结果表明器件光电流随着目标辐射的升高逐渐上升,同时器件微分阻抗随之下降;在同一背景红外辐射下,器件微分阻抗随着反向偏压的增加而下降.采用"lucky electron"模型对器件的R-V曲线进行了拟合,结果证实器件反偏微分电阻下降的主要原因是由于pn结耗尽区光生载流子的激增,碰撞电离导致的光电倍增效应所引起.
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文献信息
篇名 HgCdTe光伏探测器在高温背景辐照下的I-V特性分析
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 物理学
关键词 HgCdTe 高温背景辐照 碰撞离子化 微分阻抗
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 257-260
页数 4页 分类号 O472
字数 3529字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9014.2006.04.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李言谨 中国科学院上海技术物理研究所 24 187 8.0 13.0
2 王晨飞 中国科学院上海技术物理研究所 4 46 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
HgCdTe
高温背景辐照
碰撞离子化
微分阻抗
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
2620
总下载数(次)
3
总被引数(次)
28003
论文1v1指导