二次曝光全息干涉计量技术研究应力场

• 作者: 王健 高文斌
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 全息干涉 二次曝光 应力场
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 95-98
• 页数: 4页
• 分类号: O640
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2006.04.024

摘要

该文回顾了全息技术的发展历史,阐述全息技术的现行状况和相关的发展.从两个方面论述二次曝光全息技术研究应力场实验所需要的理论基础,第一个方面是论述全息照相技术的理论基础,第二个方面是论述了全息干涉计量学的相关理论,重点阐述二次曝光全息计量和漫射体全息干涉计量的基本理论.该论文用二次曝光全息干涉技术研究漫射体受力所产生的应力场,即将物体受力前后的两次全息信息记录在全息干板上,干板上形成漫射体的干涉条纹图,通过分析干涉条纹可以知道漫射体应力场的分布情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王健	杭州电子科技大学理学院	49	364	10.0	17.0
2	高文斌	杭州电子科技大学理学院	11	17	3.0	3.0