门级电路自动测试向量生成技术原理

• 作者: 刘观生 葛海通 陈偕雄
• 来源期刊: 浙江大学学报（理学版）
• 学科: 工学
• 关键词: ATPG 门级电路 测试
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 电子科学
• 页码范围: 52-57
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 4651字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1008-9497.2006.01.013

摘要

集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加,而ATPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义,本文对该技术的发展及其所采用的方法进行了系统地介绍和分析.针对门级的组合电路和时序电路的ATPG方法具有许多相似之处,但也同时存在各自的特点,在文中,对这两类电路的方法进行了仔细的比较、区分.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈偕雄	浙江大学信息与电子工程系	139	691	12.0	17.0
2	刘观生	浙江大学信息与电子工程系	10	64	5.0	7.0
3	葛海通	浙江大学电气学院	52	293	8.0	14.0