痕量锗的HG-ICP测定及介质对其测定的影响的研究

• 作者: 赵承易 金未 马辉
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 化学
• 关键词: 锗 氢化法 电感耦合等离子体原子发射光谱 介质影响
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 页码范围: 1702-1706
• 页数: 5页
• 分类号: O657.3
• 字数: 3907字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0593.2006.09.033

摘要

采用氢化物发生-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定痕量锗的方法,系统地考察了不同酸介质、NaBH4浓度及共存元素的影响,确定了最佳测定条件.方法的检出限为0.2ng·mL-1,精密度为0.9%.用环境标准物质进行对照,其测定值均在给定的标准范围之内.并且针对反应介质对锗测定的影响,进行了详尽的研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马辉	北京师范大学测试中心	32	145	7.0	11.0
2	赵承易	北京师范大学测试中心	20	486	10.0	20.0
3	金未	北京师范大学测试中心	5	31	4.0	5.0