Ti含量对FePt/Tix(FePt)100-x薄膜微结构和磁特性的影响

• 作者: 于红云 孙会元 封顺珍 张玉杰 赵建国
• 来源期刊: 河北师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 对靶磁控溅射 磁记录介质 FePt薄膜 有序L10织构 矫顽力
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 物理学
• 页码范围: 535-537
• 页数: 3页
• 分类号: O484.4+3|O484.5
• 字数: 1612字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5854.2006.05.011

摘要

应用直流对靶磁控溅射法在玻璃基片上沉积了FePt/Tix(FePt)100-x薄膜,并在真空中进行原位退火.研究表明,衬底层Ti含量对FePt/Tix(FePt)100-x薄膜的微结构和磁特性影响很大.在退火温度为550℃,衬底层中的Ti含量为78%条件下,FePt形成了高度有序的L10织构,表面颗粒尺寸分布均匀,粒径减小到11 nm,矫顽力达到最大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙会元	河北师范大学物理科学与信息工程学院	38	76	5.0	6.0
2	封顺珍	河北师范大学物理科学与信息工程学院	12	26	3.0	4.0
3	张玉杰	河北师范大学物理科学与信息工程学院	6	24	3.0	4.0
4	于红云	河北师范大学物理科学与信息工程学院	3	4	1.0	1.0